Atomic force microscope with an adjustable probe direction and piezoresistive cantilevers operated in tapping-mode / Im Tapping-Modus betriebenes Rasterkraftmikroskop mit einstellbarer Antastrichtung und piezoresistiven Cantilevern

Korpelainen V., Schaude J., Albrecht J., Klöpzig U., Gröschl A.C., Hausotte Tino

Rasterkraftmikroskopie; piezoresistive Cantilever; Nanomessmaschine

Document type Article
Journal title / Source tm - Technisches Messen
Volume 86
Issue s1
Page numbers / Article number 12-16
Publisher's name Walter de Gruyter GmbH
Publication date 2019-9
ISSN 2196-7113, 0171-8096
DOI 10.1515/teme-2019-0035
Language English

Back to the list view