Développement d’un instrument virtuel pour améliorer l’estimation de l’incertitude de mesure du microscope à force atomique métrologique du LNE
Ceria P., Ducourtieux S., Boukellal Y.metrological atomic force microscopy, virtual instrument, modelling, Monte Carlo method, measurement uncertainty
Document type | Proceedings |
Journal title / Source | Proceedings of Forum des microscopies à sonde locale |
Volume | 11 |
Issue | 2015 |
Page numbers / Article number | p 11-12 |
Publication date | 2015 |
Conference name | Forum des microscopies à sonde locale |
Conference date | March 16-20, 2015 |
Conference place | Rouilly-Sacey, France |
Web URL | http://www.sondeslocales.fr/livret2015 |
Language | French |