Développement d’un instrument virtuel pour améliorer l’estimation de l’incertitude de mesure du microscope à force atomique métrologique du LNE

Ceria P., Ducourtieux S., Boukellal Y.
Keywords:

metrological atomic force microscopy, virtual instrument, modelling, Monte Carlo method, measurement uncertainty

Document type Proceedings
Journal title / Source Proceedings of Forum des microscopies à sonde locale
Volume 11
Issue 2015
Page numbers / Article number p 11-12
Publication date 2015
Conference name Forum des microscopies à sonde locale
Conference date March 16-20, 2015
Conference place Rouilly-Sacey, France
Web URL http://www.sondeslocales.fr/livret2015
Language French

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