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Chavel, P., Sortais, Y., Labardens, T., Simonot, L., Hebert, M. and Obein, G. (LNE-CNAM)

Oancea, C., Bălan, C., Pivec, J., Granja, C., Jakubek, J., Chvatil, D., Olsansky, V. and Chiș, V.

Levi, F., Calonico, D., Tarallo, M.G. and Barbiero, M.

Levi, F., Calonico, D., Tarallo, M.G. and Barbiero, M.

Hrabina, J. (ISI), Hošek, M., Rerucha, S. (ISI, Brno, CZ), Čížek, M. (ISI), Pilat, Z., Zucco, M. (INRIM), Lazar, J. (ISI) and Číp, O. (ISI)

Celep, M., Salek, M., Stokes, D., Skinner, J. and Wang, Y.

Minelli, C., Wywijas, M., Bartczak, D., Cuello-Nuñez, S., Infante, H.G., Deumer, J., Gollwitzer, C. (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig & Berlin, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig, Germany), Krumrey, M., Murphy, K.E., Johnson, M.E., Montoro Bustos, A.R., Strenge, I.H., Faure, B., Høghøj, P., Tong, V., Burr, L., Norling, K., Höök, F., Roesslein, M., Kocic, J., Hendriks, L., Kestens, V., Ramaye, Y., Contreras Lopez, M.C., Auclair, G., Mehn, D., Gilliland, D., Potthoff, A., Oelschlägel, K., Tentschert, J., Jungnickel, H., Krause, B.C., Hachenberger, Y.U., Reichardt, P., Luch, A., Whittaker, T.E., Stevens, M.M., Gupta, S., Singh, A., Lin, F-h., Liu, Y-H., Costa, A.L., Baldisserri, C., Jawad, R., Andaloussi, S.E.L., Holme, M.N., Lee, T.G. (Center for Nano-Bio Measurement, Korea Research Institute of Standards and Science, 267 Gajeong-ro, Yuseong-gu, Daejeon 305-340, Republic), Kwak, M., Kim, J. (Optoelectronics Research Centre, University of Southampton, Southampton, UK), Ziebel, J., Guignard, C., Cambier, S., Contal, S., Gutleb, A.C., “Kuba” Tatarkiewicz, J., Jankiewicz, B.J., Bartosewicz, B., Wu, X., Fagan, J.A., Elje, E., Rundén-Pran, E., Dusinska, M., Kaur, I.P., Price, D., Nesbitt, I., O′ Reilly, S., Peters, R.J.B., Bucher, G., Coleman, D., Harrison, A.J., Ghanem, A., Gering, A., McCarron, E., Fitzgerald, N., Cornelis, G., Tuoriniemi, J., Sakai, M., Tsuchida, H., Maguire, C., Prina-Mello, A., Lawlor, A.J., Adams, J., Schultz, C.L., Constantin, D., Thanh, N.T.K., Tung, L.D., Panariello, L., Damilos, S., Gavriilidis, A., Lynch, I., Fryer, B., Carrazco Quevedo, A., Guggenheim, E., Briffa, S., Valsami-Jones, E., Huang, Y., Keller, A.A., Kinnunen, V-T., Perämäki, S., Krpetic, Z., Greenwood, M. and Shard, A.G. (National Physical Laboratory, Teddington, TW11 0LW, United Kingdom)

Colom, R., Binkowski, F., Betz, F., Kivshar, Y. and Burger, S.

Colom, R., Binkowski, F., Betz, F., Kivshar, Y. and Burger, S.

Mélin, F., Colandrea, P., De Vis, P. and Hunt, S.E.

Fasolo, L., Barone, C., Borghesi, M., Carapella, G., Caricato, A.P., Carusotto, I., Chung, W., Cian, A., Di Gioacchino, D., Enrico, E. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM)), Falferi, P., Faverzani, M., Ferri, E., Filatrella, G., Gatti, C., Giachero, A., Giubertoni, D., Greco, A., Kutlu, C., Leo, A., Ligi, C., Livreri, P., Maccarone, G., Margesin, B., Maruccio, G., Matlashov, A., Mauro, C., Mezzena, R., Monteduro, A.G., Nucciotti, A., Oberto, L. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica), Pagano, S., Pierro, V., Piersanti, L., Rajteri, M., Rettaroli, A., Rizzato, S., Semertzidis, Y.K., Uchaikin, S.V. and Vinante, A.

Arrhenius, K., Bacquart, T., Schröter, K., Carré, M., Gozlan, B., Beurey, C. and Blondeel, C.