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Minelli, C., Wywijas, M., Bartczak, D., Cuello-Nuñez, S., Infante, H.G., Deumer, J., Gollwitzer, C. (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig & Berlin, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig, Germany), Krumrey, M., Murphy, K.E., Johnson, M.E., Montoro Bustos, A.R., Strenge, I.H., Faure, B., Høghøj, P., Tong, V., Burr, L., Norling, K., Höök, F., Roesslein, M., Kocic, J., Hendriks, L., Kestens, V., Ramaye, Y., Contreras Lopez, M.C., Auclair, G., Mehn, D., Gilliland, D., Potthoff, A., Oelschlägel, K., Tentschert, J., Jungnickel, H., Krause, B.C., Hachenberger, Y.U., Reichardt, P., Luch, A., Whittaker, T.E., Stevens, M.M., Gupta, S., Singh, A., Lin, F-h., Liu, Y-H., Costa, A.L., Baldisserri, C., Jawad, R., Andaloussi, S.E.L., Holme, M.N., Lee, T.G. (Center for Nano-Bio Measurement, Korea Research Institute of Standards and Science, 267 Gajeong-ro, Yuseong-gu, Daejeon 305-340, Republic), Kwak, M., Kim, J. (Optoelectronics Research Centre, University of Southampton, Southampton, UK), Ziebel, J., Guignard, C., Cambier, S., Contal, S., Gutleb, A.C., “Kuba” Tatarkiewicz, J., Jankiewicz, B.J., Bartosewicz, B., Wu, X., Fagan, J.A., Elje, E., Rundén-Pran, E., Dusinska, M., Kaur, I.P., Price, D., Nesbitt, I., O′ Reilly, S., Peters, R.J.B., Bucher, G., Coleman, D., Harrison, A.J., Ghanem, A., Gering, A., McCarron, E., Fitzgerald, N., Cornelis, G., Tuoriniemi, J., Sakai, M., Tsuchida, H., Maguire, C., Prina-Mello, A., Lawlor, A.J., Adams, J., Schultz, C.L., Constantin, D., Thanh, N.T.K., Tung, L.D., Panariello, L., Damilos, S., Gavriilidis, A., Lynch, I., Fryer, B., Carrazco Quevedo, A., Guggenheim, E., Briffa, S., Valsami-Jones, E., Huang, Y., Keller, A.A., Kinnunen, V-T., Perämäki, S., Krpetic, Z., Greenwood, M. and Shard, A.G. (National Physical Laboratory, Teddington, TW11 0LW, United Kingdom)

Mélin, F., Colandrea, P., De Vis, P. and Hunt, S.E.

Fasolo, L., Barone, C., Borghesi, M., Carapella, G., Caricato, A.P., Carusotto, I., Chung, W., Cian, A., Di Gioacchino, D., Enrico, E. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM)), Falferi, P., Faverzani, M., Ferri, E., Filatrella, G., Gatti, C., Giachero, A., Giubertoni, D., Greco, A., Kutlu, C., Leo, A., Ligi, C., Livreri, P., Maccarone, G., Margesin, B., Maruccio, G., Matlashov, A., Mauro, C., Mezzena, R., Monteduro, A.G., Nucciotti, A., Oberto, L. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica), Pagano, S., Pierro, V., Piersanti, L., Rajteri, M., Rettaroli, A., Rizzato, S., Semertzidis, Y.K., Uchaikin, S.V. and Vinante, A.

Dieudonne, M., Sunday, A., Heliot, F., Cheadle, D. and Loh, T.

Gollwitzer, C. (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig & Berlin, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig, Germany), Deumer, J., Salzmann, C., Tokarski, T., Cios, G., Maurino, V., Pellegrino, F., Delvallée, A., Feltin, N., Crouzier, L. and Hodoroaba, V-D.

Xie, Y., Dierikx, E. (VSL, Van Swinden Laboratorium, Thijsseweg 11, 2629 JA Delft, The Netherland) and van Veghel, M.

Ogrinc, N., Rossi, A.M., Durbiano, F., Becker, R., Milavec, M. (NIB), Bogožalec Košir, A., Kakoulides, E., Ozer, H., Akçadag, F., Goenaga-Infante, H., Quaglia, M., Mallia, S., Umbricht, G., O'Connor, G. and Guettler, B.

Degiovanni, I.P. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM), Torino, Italy), Gramegna, M., Bize, S., Scherer, H. and Chunnilall, C.

Lisdat, Ch., Dörscher, S. (PTB, Braunschweig, Germany), Nosske, I. and Sterr, U.

Geršak, G., Schiebl, M., Nawotka, M., Jugo, E., Ferreira, M. do C., Duffy, A., Rosu, D.M., Pavlasek, P. (Slovak Institute of Metrology), Sedlák, V. and Pražák, D.

Sedlák, V., Pražák, D., Schiebl, M., Nawotka, M., Jugo, E., Ferreira, M. do C., Duffy, A., Rosu, D.M., Pavlasek, P. (Slovak Institute of Metrology) and Geršak, G.

Sud, A., Tacchi, S., Sagkovits, D., Barton, C., Sall, M., Diez, L.H., Stylianidis, E., Smith, N., Wright, L. (NPL), Zhang, S., Zhang, X., Ravelosona, D., Carlotti, G., Kurebayashi, H., Kazakova, O. and Cubukcu, M.