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Kok, G. (VSL), Wübbeler, G. and Elster, C.

Bosse, H., Przyklenk, A., Balsamo, A. (INRIM, Torino, Italy), O'Connor, D., Favre, G., Evans, A. and Phillips, D.

Briant, T., Krenek, S., Cupertino, A., Loubar, F., Braive, R., Weituschat, L., Ramos, D., Martin, M.J., Postigo, P.A., Casas, A., Eisermann, R., Schmid, D., Tabandeh, S., Hahtela, O., Pourjamal, S., Kozlova, O., Kroker, S., Dickmann, W., Zimmermann, L., Winzer, G., Martel, T., Steeneken, P.G., Norte, R.A. and Briaudeau, S.

Volkova, K., Heupel, J., Trofimov, S., Betz, F., Colom, R., MacQueen, R.W., Akhundzada, S., Reginka, M., Ehresmann, A., Reithmaier, J.P., Burger, S., Popov, C. and Naydenov, B.

Volkova, K., Heupel, J., Trofimov, S., Betz, F., Colom, R., MacQueen, R.W., Akhundzada, S., Reginka, M., Ehresmann, A., Reithmaier, J.P., Burger, S., Popov, C. and Naydenov, B.

Livreri, P., Enrico, E. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM)), Fasolo, L., Greco, A., Rettaroli, A., Vitali, D., Farina, A., Marchetti, Com. F. and Giacomin, A. Sq. D.

Bircher, B., Meli, F., Küng, A., Bellon, C., Evsevleev, S., Katić, M., Heikkinen, V., Hemming, B. (MIKES Centre for Metrology and Accreditation) and Lassila, A.

Beckhoff, B., Ulm, G., Ryadnov, M.G. (National Physical Laboratory, University of Edinburgh), Hoehl, A. (1Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany), Tiersch, B., Hornemann, A. (1Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany) and Eichert, D.M.

Fasolo, L., Barone, C., Borghesi, M., Carapella, G., Caricato, A.P., Carusotto, I., Chung, W., Cian, A., Di Gioacchino, D., Enrico, E. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM)), Falferi, P., Faverzani, M., Ferri, E., Filatrella, G., Gatti, C., Giachero, A., Giubertoni, D., Greco, A., Kutlu, C., Leo, A., Ligi, C., Livreri, P., Maccarone, G., Margesin, B., Maruccio, G., Matlashov, A., Mauro, C., Mezzena, R., Monteduro, A.G., Nucciotti, A., Oberto, L. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica), Pagano, S., Pierro, V., Piersanti, L., Rajteri, M., Rettaroli, A., Rizzato, S., Semertzidis, Y.K., Uchaikin, S.V. and Vinante, A.

Minelli, C., Wywijas, M., Bartczak, D., Cuello-Nuñez, S., Infante, H.G., Deumer, J., Gollwitzer, C. (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig & Berlin, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig, Germany), Krumrey, M., Murphy, K.E., Johnson, M.E., Montoro Bustos, A.R., Strenge, I.H., Faure, B., Høghøj, P., Tong, V., Burr, L., Norling, K., Höök, F., Roesslein, M., Kocic, J., Hendriks, L., Kestens, V., Ramaye, Y., Contreras Lopez, M.C., Auclair, G., Mehn, D., Gilliland, D., Potthoff, A., Oelschlägel, K., Tentschert, J., Jungnickel, H., Krause, B.C., Hachenberger, Y.U., Reichardt, P., Luch, A., Whittaker, T.E., Stevens, M.M., Gupta, S., Singh, A., Lin, F-h., Liu, Y-H., Costa, A.L., Baldisserri, C., Jawad, R., Andaloussi, S.E.L., Holme, M.N., Lee, T.G. (Center for Nano-Bio Measurement, Korea Research Institute of Standards and Science, 267 Gajeong-ro, Yuseong-gu, Daejeon 305-340, Republic), Kwak, M., Kim, J. (Optoelectronics Research Centre, University of Southampton, Southampton, UK), Ziebel, J., Guignard, C., Cambier, S., Contal, S., Gutleb, A.C., “Kuba” Tatarkiewicz, J., Jankiewicz, B.J., Bartosewicz, B., Wu, X., Fagan, J.A., Elje, E., Rundén-Pran, E., Dusinska, M., Kaur, I.P., Price, D., Nesbitt, I., O′ Reilly, S., Peters, R.J.B., Bucher, G., Coleman, D., Harrison, A.J., Ghanem, A., Gering, A., McCarron, E., Fitzgerald, N., Cornelis, G., Tuoriniemi, J., Sakai, M., Tsuchida, H., Maguire, C., Prina-Mello, A., Lawlor, A.J., Adams, J., Schultz, C.L., Constantin, D., Thanh, N.T.K., Tung, L.D., Panariello, L., Damilos, S., Gavriilidis, A., Lynch, I., Fryer, B., Carrazco Quevedo, A., Guggenheim, E., Briffa, S., Valsami-Jones, E., Huang, Y., Keller, A.A., Kinnunen, V-T., Perämäki, S., Krpetic, Z., Greenwood, M. and Shard, A.G. (National Physical Laboratory, Teddington, TW11 0LW, United Kingdom)

Fasolo, L., Greco, A., Enrico, E. (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM)), Illuminati, F., Lo Franco, R., Vitali, D. and Livreri, P.

Forbes, A., Jagan, K., Donlevy, J. and Eichstädt, S. (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin, Germany)