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Enhancing the sensitivity of nano-FTIR spectroscopy

Ruhl, E. (2Physikalische und Theoretische Chemie, Institut für Chemie und Biochemie, Freie Universität Berlin, Takustraße 3,), Beckhoff, B., Tydecks, T., Ries, M., Feikes, J., Ulrich, G. (2Physikalische und Theoretische Chemie, Institut für Chemie und Biochemie, Freie Universität Berlin, Takustraße 3 14195 Berlin, Germany), Patoka, P. (2Physikalische und Theoretische Chemie, Institut für Chemie und Biochemie, Freie Universität Berlin, Takustraße 3,), Kashcheyevs, V., Hoehl, A. (1Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany), Kästner, B., Hermann, P. (1Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany) and Ulm, G.
Keywords:

Instrumentation, measurement, and metrology; Near-field microscopy

Document typeArticle
Journal title / SourceOptics Express
Volume25
Issue14
Page numbers / Article number16574
Publisher's nameThe Optical Society
Publication date 2017-07
ISSN1094-4087
DOI10.1364/OE.25.016574
Web URLhttps://www.osapublishing.org/DirectPDFAccess/158D237A-A0E8-5960-84426107CE1CBCF4_369006/oe-25-14-16574.pdf?da=1&id=369006&seq=0&mobile=no
LanguageEnglish

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