Ponti digitali automatici per la metrologia di impedenza

Callegaro Luca, D'Elia V., Pourdanesh Faranak, Ortolano Massimo, Bee Kim Dan, Kampik Marian
Keywords:

Metrology, impedance, admittance, measurement standards, precision measurements, bridge circuits.

Document type Proceedings
Journal title / Source Atti del XXXI Congresso Nazionale del Gruppo di Misure Elettriche ed Elettroniche
Page numbers / Article number 285-291
Publication date 2014
Conference name XXXI Congresso Nazionale del Gruppo di Misure Elettriche ed Elettroniche
Conference date 11-13 September 2014
Conference place Ancona, Italy

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