Ponti digitali automatici per la metrologia di impedenza
Callegaro Luca, D'Elia V., Pourdanesh Faranak, Ortolano Massimo, Bee Kim Dan, Kampik MarianMetrology, impedance, admittance, measurement standards, precision measurements, bridge circuits.
Document type | Proceedings |
Journal title / Source | Atti del XXXI Congresso Nazionale del Gruppo di Misure Elettriche ed Elettroniche |
Page numbers / Article number | 285-291 |
Publication date | 2014 |
Conference name | XXXI Congresso Nazionale del Gruppo di Misure Elettriche ed Elettroniche |
Conference date | 11-13 September 2014 |
Conference place | Ancona, Italy |