Grazing-incidence x-ray fluorescence analysis for non-destructive determination of In and Ga depth profiles in Cu(In,Ga)Se2 absorber films
Streeck, CS (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany), Brunken, SB (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Gerlach, MG (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig), Herzog, CHB (Technische Universität Berlin, Institut für Optik und Atomare Physik, Analytische Röntgenphysik, Hardenbergstr. 36, 10623, Berlin), Hönicke, PH (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig), Kaufmann, CAK (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Lubeck, JL (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig), Malzer, WM (Technische Universität Berlin, Institut für Optik und Atomare Physik, Analytische Röntgenphysik, Hardenbergstr. 36, 10623, Berlin), Pollakowski, BP (Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germanyv), Unterumsberger, RU (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig), Weber, AW (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Beckhoff, BB (Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany), Kanngießer, BK (Technische Universität Berlin, Institut für Optik und Atomare Physik, Analytische Röntgenphysik, Hardenbergstr. 36, 10623, Berlin), Schock, HWS (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany) and Mainz, RM (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany)Fluorescence, copper, synchrotron radiation, x-ray fluorescence spectroscopy, solar cells
Document type | Article |
Journal title / Source | Applied Physics Letters |
Peer-reviewed article | Yes |
Volume | 103 |
Issue | 11 |
Page numbers / Article number | 1-12 |
Publisher's name | AIP Publishing |
Publisher's address (city only) | New York |
Publication date | 2013-09-12 |
ISSN | 0003-6951 |
DOI | 10.1063/1.4821267 |
Web URL | http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/103/11/10.1063/1.4821267 |
Language | English |