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Grazing-incidence x-ray fluorescence analysis for non-destructive determination of In and Ga depth profiles in Cu(In,Ga)Se2 absorber films

Streeck, CS (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany), Brunken, SB (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Gerlach, MG (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig), Herzog, CHB (Technische Universität Berlin, Institut für Optik und Atomare Physik, Analytische Röntgenphysik, Hardenbergstr. 36, 10623, Berlin), Hönicke, PH (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig), Kaufmann, CAK (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Lubeck, JL (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig), Malzer, WM (Technische Universität Berlin, Institut für Optik und Atomare Physik, Analytische Röntgenphysik, Hardenbergstr. 36, 10623, Berlin), Pollakowski, BP (Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germanyv), Unterumsberger, RU (Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116, Braunschweig), Weber, AW (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Beckhoff, BB (Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany), Kanngießer, BK (Technische Universität Berlin, Institut für Optik und Atomare Physik, Analytische Röntgenphysik, Hardenbergstr. 36, 10623, Berlin), Schock, HWS (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany) and Mainz, RM (Helmholtz-Zentrum Berlin für materialien und energie, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany)
Keywords:

Fluorescence, copper, synchrotron radiation, x-ray fluorescence spectroscopy, solar cells

Document typeArticle
Journal title / SourceApplied Physics Letters
Peer-reviewed articleYes
Volume103
Issue11
Page numbers / Article number1-12
Publisher's nameAIP Publishing
Publisher's address (city only)New York
Publication date 2013-09-12
ISSN0003-6951
DOI10.1063/1.4821267
Web URLhttp://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/103/11/10.1063/1.4821267
LanguageEnglish

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