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Sudden stress relaxation in compound semiconductor thin films triggered by secondary phase segregation

Mainz, R. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Rodriguez-Alvarez, H. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Klaus, M. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Thomas, D. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Lauche, J. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Weber, A. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Heinemann, M. D. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Brunken, S. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Greiner, D. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Kaufmann, C. A. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Unold, T. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Schock, H.-W. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany) and Genzel, C. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany)

Keywords:

Thin films, solar cells, Cu(In,Ga)Se2, stress relaxation, recrystallization, grain growth, in-situ, XRD, XRF


Document type	Article
Journal title / Source	Physical Review B
Peer-reviewed article	Yes
Volume	92
Issue	15
Page numbers / Article number	155310
Publisher's name	American Physical Society
Publisher's address (city only)	College Park
Publication date	2015-10-12
ISSN	2469-9969
DOI	10.1103/PhysRevB.92.155310
Language	English

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