Sudden stress relaxation in compound semiconductor thin films triggered by secondary phase segregation
Mainz, R. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Rodriguez-Alvarez, H. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Klaus, M. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Thomas, D. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Lauche, J. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Weber, A. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Heinemann, M. D. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Brunken, S. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Greiner, D. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Kaufmann, C. A. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Unold, T. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany), Schock, H.-W. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany) and Genzel, C. (Helmholtz-Zentrum Berlin f¨ur Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner-Platz 1, 14109 Berlin, Germany)Thin films, solar cells, Cu(In,Ga)Se2, stress relaxation, recrystallization, grain growth, in-situ, XRD, XRF
Document type | Article |
Journal title / Source | Physical Review B |
Peer-reviewed article | Yes |
Volume | 92 |
Issue | 15 |
Page numbers / Article number | 155310 |
Publisher's name | American Physical Society |
Publisher's address (city only) | College Park |
Publication date | 2015-10-12 |
ISSN | 2469-9969 |
DOI | 10.1103/PhysRevB.92.155310 |
Language | English |