Welcome to the EURAMET Repository Link

The EURAMET Repository Link is an online service providing links to scientific papers published within the European Metrology Research Programme (EMRP), the European Metrology Programme for Innovation and Research (EMPIR) and projects funded by iMERA-Plus.

Diffusion-induced grain boundary migration as mechanism for grain growth and defect annihilation in chalcopyrite thin films

Stange, H. (Technische Universität Berlin, Institut für Werkstoffwissenschaften, 10587, Berlin, Germany), Brunken, S. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany), Greiner, D. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany), Heinemann, M. D. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany), Kaufmann, C. A. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany), Schmidt, S. S. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany), Bäcker, J.-P. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany), Klaus, M. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany), Genzel, C. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany) and Mainz, R. (Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109, Berlin, Germany)
Keywords:

X-ray diffraction, Physical vapor deposition (PVD), Stacking faults, Grain boundary migration, CuInSe2

Document typeArticle
Journal title / SourceActa Materialia
Peer-reviewed articleYes
Volume111
Issue-
Page numbers / Article number377-384
Publisher's nameElsevier Ltd.
Publisher's address (city only)Amsterdam
Publication date 2016-04-10
ISSN1359-6454
DOI10.1016/j.actamat.2016.03.073
LanguageEnglish

Back to the list view