Name Institute Country / Organisation
von Klitzing, Klaus Germany
Kruger, Oelof South Africa
Imkamp, Dietrich Germany
Voipio, Ville Finland
Cataliotti, Francesco Saverio Italy
Cobbaert, Christa Netherlands
Berlijn, Sonja Sweden
Ikonen, Erkki Aalto - Aalto University, Metrology Research Institute Finland
Manoocheri, Farshid Aalto - Aalto University, Metrology Research Institute Finland
Kärhä, Petri Aalto - Aalto University, Metrology Research Institute Finland
Park, Hyun-Min APMP - Asia Pacific Metrology Programme International/Regional Organisation
Hong, Tae-Yi APMP - Asia Pacific Metrology Programme International/Regional Organisation
Panne, Ulrich BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Philipp, Rosemarie BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Jaenisch, Gerd-Rüdiger BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Kipphardt, Heinrich BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Hodoroaba, Vasile-Dan BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Unger, Jörg F. BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Richter, Silke BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Weller, Michael BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Traub, Heike BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Richter, Matthias BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Evans, Alexander BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Bruno, Giovanni BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Wilbig, Janka BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Vogel, Kristin BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Kister, Alexander BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Becker, Roland BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Koch, Matthias BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Vogel, Christian BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Piechotta, Christian BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Schneider, Rudolf BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Tuma, Dirk BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Orellana Perez, Teresa BAM - Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung Germany
Heine, Gernot BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Niessner, Anton BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Waldmann, Wolfgang BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Schnaitt, Michael BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Edelmaier, Robert BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Matus, Michael BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Milota, Petra BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Zelenka, Zoltan BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Haussteiner, Karl BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Hofstätter-Mohler, Christina BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Brettner-Messler, Robert BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Prochaska, Lukas BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Ullrich, Christian BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Loewit, Moritz BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Wiener, Alexander BEV - Bundesamt für Eich- und Vermessungswesen Austria
Pachinger, Dietmar BEV/E+E - E+E Elektronik GMBH Austria
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